成果编号:
成果名称:
获奖名称: 硅单晶次缺陷图集
获奖类别: 北京市科技进步奖
获奖等级: 二等奖
授奖部门: 北京市奖励办
获奖时间: 1987年
主要完成人: 张一心 蔡田海 高维滨
登记人:
开始日期: 1987年
结束日期:
完成单位: 中国科学院半导体研究所
成果介绍: